表面鍍層測(cè)厚儀有時(shí)開(kāi)機(jī)出現(xiàn)干擾是什么原因?

測(cè)量過(guò)程中，為什么表面鍍層測(cè)厚儀有時(shí)候測(cè)量數(shù)據(jù)會(huì)出現(xiàn)明顯偏差?
測(cè)量過(guò)程當(dāng)中由于探頭放置方式不正確或者外界干擾因素的影響可能會(huì)造成測(cè)量數(shù)據(jù)明顯偏大。這時(shí)可以按住CAL鍵把該數(shù)據(jù)清除以免進(jìn)入數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)中去。
表面鍍層測(cè)厚儀如何系統(tǒng)校準(zhǔn)?
校準(zhǔn)的方法、種類(lèi)，這是新用戶經(jīng)常會(huì)遇到的問(wèn)題。系統(tǒng)校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)還有兩點(diǎn)校準(zhǔn)其實(shí)都已經(jīng)在說(shuō)明書(shū)上寫(xiě)到了，用戶只需仔細(xì)閱讀就可以了。需要注意的是：在校準(zhǔn)鐵基時(shí)是多測(cè)量幾次以防止錯(cuò)誤操作;系統(tǒng)校準(zhǔn)的樣片要按照從小到大的順序進(jìn)行。如果個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)片丟失可以找與其數(shù)值相近的樣片代替。
表面鍍層測(cè)厚儀有時(shí)開(kāi)機(jī)出現(xiàn)干擾是什么原因?
開(kāi)機(jī)后儀器屏幕出現(xiàn)測(cè)量狀態(tài)箭頭不能再次進(jìn)行測(cè)量，就說(shuō)明儀器受到了干擾。主要有兩個(gè)原因:
(1)開(kāi)機(jī)時(shí)探頭離鐵基太近，因?yàn)殍F基磁場(chǎng)的影響而受到了干擾。
(2)沒(méi)插好探頭或者探頭線有損傷。